Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F
id#3703160
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F оснащен электронной пушкой на базе эмиттера Шоттки, супергибридной объективной линзой (конической объективной линзой, использующей скрещенные электростатические и электромагнитные поля) и новым пользовательским интерфейсом. Имея в распоряжении такие мощные функции, даже начинающий пользователь может легко получать изображения со сверхвысоким разрешением.
Комбинация магнитных и электростатических полей обеспечивает превосходный эффект, значительно улучшая разрешение растрового электронного микроскопа особенно при низких ускоряющих напряжениях. Кроме того, стандартный нижний детектор обеспечивает детектирование отраженных электронов, испускаемых при малых углах. Работа в режиме детектирования этих электронов позволяет снизить эффект электростатического заряда на поверхности образца.
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F имеет мощную электронно-оптическую систему, которая включает пушку Шоттки, погружённую в конденсор для получения яркого электронного луча и обеспечивающую острую фокусировку даже при больших токах.
Кроме того, поскольку при режиме микроанализа образец не находится в области электромагнитных полей объективной линзы, растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F обеспечивает энергодисперсионный и волнодисперсионный элементный анализ, анализ катодолюминесценции, анализ дифракции отражённых электронов и прочие аналитические функции.
Безмасляная высоковакуумная откачка турбомолекулярным насосом обеспечена в стандартной комплектации. Кроме того, растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F имеет новую функцию, которая позволяет одновременно, в режиме реального времени, наблюдение изображений с четырех детекторов.
В результате, вы всегда можете легко найти соответствующий вашим потребностям сигнал изображения. Кроме того, применяя напряжение смещения на образце, вы можете наблюдать непроводящие образцы, в том числе изоляционные материалы (керамика и т.д.) и полупроводники.
Стандартный 5-осевой моторизованный столик образцов не только предотвращает образец от контакта с корпусом и деталями детекторов для обеспечения безопасности, но и позволяет задать условия перемещения для каждого нового образца. Энергосберегающая система автоматически снижает потребление электроэнергии в случае, если РЭМ временно не используется.
Тип источника электронов эмиттер Шоттки
Пространственное разрешение 1, 0 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, обычный режим) 0, 8 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, низковольтный режим) 1, 5 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ, обычный режим) 1, 2 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ
Энергия электронного луча от 10 эВ до 30 кэВ
Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Ток луча 200 нА максимум
Аналитические приставки - опции ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализаторы катодолюминесценции
Максимальный размер образца диаметр до 100 мм
Столик образцов Ось X: 70 мм Ось Y: 50 мм Ось Z: от 2 до 41 мм (непрерывно) Наклон: от –5 до 70° Вращение: 360° непрерывно
Система вакуумной откачки турбомолекулярная и ионная
Система шлюзования есть
Страна производитель Япония
14.06.2019 г.
Сохранить в блокнот Сообщить о нарушении